Microelectronics and Reliability

Código CCN: 048577-2


ISSN (Online): 0026-2714
Kraj: Não informado
Wydawnictwo: Pergamon Press Elsevier
Imprenta: Oxford, Inglaterra: Pergamon Press, 2004
Oxford, Inglaterra: Elsevier, 2022
Área de numeração: Vol. 3, No. 1 (Jun. 1964)-
Podobne zapisy: Microelectronics and Reliability

Coleção


Instituição Unidade Biblioteca Coleção Dados
Universidade de São Paulo Instituto de Física de São Carlos Serviço de Biblioteca e Informação "Prof. Bernhard Gross" 1995-2000 35-40; 2001 41(1-10)
Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais Centro de Tecnologia Divisão de Biblioteca 1964 3(1-4); 1965 4(1-4); 1966 5(1-4); 1967 6(1-4); 1968 7(1-4); 1969 8(1- 4); 1970 9(1-6); 1971 10(1-6); 1972 11(1-5); 1973 12(1); 1984 24(1-6); 1985 25(1 -6); 1986 26(1-6); 1987 27(1-6); 1988 28(1-6); 1989 29(1-6); 1990 30(1- 6); 1991 31(1,2/3,4-6), 32(1/2,3-8); 1992 32(9-12)
Universidade Estadual de Campinas Instituto Tecnológico de Aeronáutica Biblioteca da Área de Engenharia e Arquitetura 1964-72 3-11; 1981-91 21-31; 1992 32(1-3,5-12): 1993-33-37; 1998 38(1-2,6- 12); 2000 40(1-12); 2001 41(1-12); 2002 42(1-12); 2003 43(1-12); 2004 44(1-8,9/ 1 2); 2005 45(1-12); 2006 46(1-8-9/11-12); 2007 47(1-12)
Universidade Federal do Rio de Janeiro Instituto de Física Biblioteca Central 1988 28(1-6); 1989 29(1-6);
Universidade Federal de Viçosa - Biblioteca Central Professor Antônio Secundino de São José 1991 31(4)
Departamento de Ciência e Tecnologia Aeroespacial - Biblioteca 1982 22; 1983 23(1-2); 1986-90 26-30; 1991 31(1-3); 1992 32(1-3)
Universidade Federal do Rio Grande do Sul - Biblioteca Professora Ruth de Souza Schneider 1964 3; 1965 4(1,2); 1966-68 5-7; 1969 8(1,2,4); 1970-71 9-10; 1972 11(1-2 ); 1979 19(5/6); 1980 20(1/2); 1981 21(1); 1983 23(1); 2004 44(1); 2005 45(1,2)
Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares - Biblioteca Terezine Arantes Ferraz 1975 14; 1976 15(S)